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低价格、半导体硅片红外测温仪DT40P , 300~2500°C
测温范围:300~1300°C ,400~1400°C ,500~2500°C
波长:3.43μm
最小可测目标:Φ1.6mm @ 95mm
主要应用:
1) 半导体制造硅片测温
2) 塑料薄膜(聚丁烯、聚苯乙烯、聚亚胺酯、乙烯基、尼龙)
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